X射線衍射點陣常數(shù)的精確測定
點陣常數(shù)是晶體物質(zhì)的基本結(jié)構(gòu)參數(shù),測定點陣常數(shù)在研究固態(tài)相變、確定固溶體類型、測定固溶體溶解度曲線、測定熱膨脹系數(shù)等方面都得到了應(yīng)用。點陣常數(shù)的測定是通過X射線衍射線的位置(θ )的測定而獲得的,通過測定衍射花樣中每一條衍射線的位置均可得出一個點陣常數(shù)值。
點陣常數(shù)測定中的精確度涉及兩個獨立的問題,即波長的精度和布拉格角的測量精度。波長的問題主要是X射線譜學(xué)家的責(zé)任,衍射工作者的任務(wù)是要在波長分布與衍射線分布之間建立一一對應(yīng)的關(guān)系。知道每根反射線的密勒指數(shù)后就可以根據(jù)不同的晶系用相應(yīng)的公式計算點陣常數(shù)。晶面間距測量的精度隨θ 角的增加而增加, θ越大得到的點陣常數(shù)值越精確,因而點陣常數(shù)測定時應(yīng)選用高角度衍射線。誤差一般采用圖解外推法和最小二乘法來消除,點陣常數(shù)測定的精確度極限處在1×10-5附近。
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